A.會(huì)使聲束產(chǎn)生彎曲現(xiàn)象
B.會(huì)產(chǎn)生固定的遲到回波
C.聲束在側(cè)壁上會(huì)產(chǎn)生變型波
D.以上都有可能
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A.靈敏度、脈沖寬度、指向性
B.靈敏度、衰減、草狀回波
C.衰減、草狀回波
D.要求發(fā)現(xiàn)的缺陷尺寸
A.靈敏度、脈沖寬度、指向性
B.靈敏度、衰減、草狀回波
C.衰減、草狀回波
D.要求發(fā)現(xiàn)的缺陷尺寸
A.有足夠的潤濕性
B.與零件的聲特性阻抗差盡量要小
C.對(duì)零件無腐蝕
D.以上都是
A.容易附著在零件表面
B.來源方便、價(jià)格低廉
C.容易清除
D.以上都是
A.使水中的雜質(zhì)充分沉淀
B.使水中的氣體充分排除
C.使水充分軟化
D.以上都是
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測(cè)長方法稱為（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。