A.缺陷的位置
B.缺陷的方向
C.區(qū)分缺陷波與假信號(hào)
D.以上選項(xiàng)都是
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A.上擴(kuò)散角大于下擴(kuò)散角
B.上擴(kuò)散角小于下擴(kuò)散角
C.上擴(kuò)散角等于下擴(kuò)散角
D.與同規(guī)格探頭垂直入射時(shí)產(chǎn)生的半擴(kuò)散角一樣
A.聲壓
B.波高
C.聲阻抗
D.聲強(qiáng)
A.工件表面粗糙
B.晶粒粗大組織不均勻
C.形狀較復(fù)雜
D.以上選項(xiàng)全部
A.儀器水平線性
B.儀器衰減器精度
C.儀器垂直線性
D.探頭晶片尺寸和頻率
A.使聲束能掃查到整個(gè)焊縫截面
B.使聲束中心線盡可能與主要危險(xiǎn)性缺陷垂直
C.保證有足夠的探傷靈敏度
D.以上選項(xiàng)全是
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。