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磁粉檢測時,使用A型或C型靈敏度試片,應(yīng)將試片無人工缺陷的面朝外。
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JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:標(biāo)準(zhǔn)試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。
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使用靈敏度試片的目的之一是要了解檢測面上磁場的方向和強(qiáng)度大小。
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