熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測試結(jié)果。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實驗操作有（）。

關(guān)于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。