利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。

在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

當?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個圓環(huán)，環(huán)上每一點都滿足衍射條件，可以產生衍射。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

簡單立方結構材料發(fā)生衍射時，可以產生衍射的晶面為（）。

電子束與固體樣品作用時，會產生背散射電子。背反射電子的產額隨樣品（）的增加而增多。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。