1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過(guò)調(diào)節(jié)（）的位置來(lái)實(shí)現(xiàn)的。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒(méi)有影響。