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【簡答題】簡述用于透射電鏡分析的晶體薄膜樣品的制備步驟。
答案:
制備步驟一般為:
(1)初減薄——制備厚度約100~200μm的薄片;
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問答題
【簡答題】說明如何用透射電鏡觀察超細粉末的尺寸和形態(tài)?如何制備樣品?
答案:
制備合適的樣品,選擇適當?shù)牟僮鳁l件成像,以觀察超細粉末的尺寸和形態(tài)。
樣品制備的關(guān)鍵是如何將超細粉的顆粒分散開...
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問答題
【簡答題】簡述透射電鏡對分析樣品的要求
答案:
透射電鏡(TEM)的樣品可分為間接樣品和直接樣品,其基本要求是:
(1)對電子束是透明的,通常樣品觀察區(qū)域的厚...
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