A.端面垂直入射檢驗
B.端面斜入射檢驗
C.圓周面垂直入射檢驗和圓周面斜入射檢驗
D.以上都是
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A.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域大
B.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
C.圓周區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
D.不能確定
A.平底孔
B.橫通孔
C.矩形槽
D.V型槽
A.接觸法縱波+橫波,端面掃查
B.水浸法縱波+橫波,端面掃查
C.水浸或接觸法縱波+橫波,周面掃查
D.縱波檢查內(nèi)部缺陷,表面波檢查表面缺陷
A.平底孔
B.橫通孔
C.矩形槽
D.V型槽
A.縱波徑向
B.縱波軸向
C.橫波周向和軸向
D.以上都可以
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最新試題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
當(dāng)超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
儀器水平線性影響()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進行傳輸修正。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。