單項(xiàng)選擇題

雙晶直探頭的最主要用途是（）。

A.探測(cè)近表面缺陷
B.精確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度
C.精確測(cè)定缺陷高度
D.用于表面缺陷檢測(cè)

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單項(xiàng)選擇題

國(guó)產(chǎn)斜探頭上標(biāo)出的 K 值是針對(duì)檢測(cè)（）制工件而言的。

A. 鋼
B. 鋁
C. 銅
D. 非金屬

單項(xiàng)選擇題

單晶直探頭接觸法檢測(cè)中，與探測(cè)面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋ǎ?/h4>

A.近場(chǎng)干擾
B.衰減
C.盲區(qū)
D.折射

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