單項(xiàng)選擇題雙晶直探頭的最主要用途是()。

A.探測(cè)近表面缺陷
B.精確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度
C.精確測(cè)定缺陷高度
D.用于表面缺陷檢測(cè)


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3.單項(xiàng)選擇題超聲波探頭對(duì)晶片要求,下列說法哪種是正確的()。

A. 機(jī)電耦合系數(shù)K較大,以便獲得較高的轉(zhuǎn)換效率,壓電電壓常數(shù)g33 和壓電應(yīng)變常數(shù)d33較大
B. 機(jī)械品質(zhì)因子θm 較小,以便獲得較高分辨力和較小的盲區(qū)
C. 頻率常數(shù)Nt較大, 介電常數(shù)ε較小,以便獲得較高的頻率
D. 以上都是

4.單項(xiàng)選擇題縱波直探頭主要用于檢測(cè)()。

A. 對(duì)接焊縫
B. 無縫鋼管
C. 鍛件和板材
D. 以上都是

5.單項(xiàng)選擇題探頭()的性能,決定著探頭的性能。

A. 晶片
B. 阻尼塊
C. 保護(hù)膜
D. 隔聲層

最新試題

用5P10×12K2.5探頭,檢測(cè)板厚T = 20 mm 的鋼對(duì)接焊接接頭,掃描時(shí)基線按水平1:1調(diào)節(jié),檢測(cè)時(shí),水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè),試分別求這兩個(gè)缺陷的深度?

題型:?jiǎn)柎痤}

用2.5P20Z探頭檢測(cè)400mm的工件, CL= 5900m/s , 如何利用150mm處Ф4平底孔調(diào)節(jié)400/Ф2靈敏度?

題型:?jiǎn)柎痤}

模擬式超聲波探傷儀用K2.3橫波斜探頭,用CSK-Ⅰ試塊R50和R100圓弧按水平1:1 進(jìn)行掃描速度校準(zhǔn),求R50、R100圓弧面的回波應(yīng)分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度值為多少?

題型:?jiǎn)柎痤}

用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚500mm的餅形鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,如何用工件底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度(500/Ф2) 

題型:?jiǎn)柎痤}

用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件,鋼中CL=5900m/s , 如何用試塊上的深150mm ,Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處的檢測(cè)靈敏度(400/Ф2)?

題型:?jiǎn)柎痤}

用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件,鋼中CL=5900m/s , 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm , (1)如用試塊(衰減可忽略)上的深200mm ,Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者的波高差為多少?   (2)如果用厚度為200mm的試塊(鍛件與試塊衰減系數(shù)相同,耦合差為5dB)底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者反射波高差為多少?

題型:?jiǎn)柎痤}

用K2斜探頭檢測(cè)T = 28mm 的鋼板對(duì)接接頭 ,儀器按深度1:1調(diào)節(jié),在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線,這時(shí)衰減器讀數(shù)為34dB , 試塊與工件耦合差為5dB ,(1) 如何調(diào)節(jié)評(píng)定線Ф1×6-9dB靈敏度?(2) 檢測(cè)中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波,其波高達(dá)面板曲線時(shí), 衰減器讀數(shù)為28dB,求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域?(按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn))

題型:?jiǎn)柎痤}

用2.5P20Z探頭從外圓周面檢測(cè)外徑D=1000mm ,內(nèi)孔d = 600mm的鍛件,CL=5900m/s 。如何利用內(nèi)孔回波校準(zhǔn)200/Ф2靈敏度?

題型:?jiǎn)柎痤}

用2.5P14Z探頭探測(cè)某鍛件,發(fā)現(xiàn)在100mm深處有一個(gè)Φ6當(dāng)量平底孔缺陷,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)評(píng)幾級(jí)?

題型:?jiǎn)柎痤}

用2.5P14Z探頭檢測(cè)鍛件,利用工件100mm大平底,如何校準(zhǔn)同工件,厚度180m處 的檢測(cè)靈敏度?

題型:?jiǎn)柎痤}