A.試塊上反射體的尺寸誤差對檢測結(jié)果影響不大
B.平底孔和橫孔均可用于TOFD波幅校準
C.校準衍射波幅的窄槽寬度不宜大于波長的四分之一
D.校準衍射波幅的窄槽槽底部要有尖角,角度為60°
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A.回波頻率變化是由介質(zhì)對不同頻率超聲波衰減不同而引起的
B.對于金屬材料介質(zhì),衰減的主要原因是散射
C.由于高頻部分衰減大,低頻部分衰減小,回波信號中心頻率下降
D.衰減造成各頻率分量聲壓的下降,但回波信號的中心頻率沒有改變
A.寬帶探頭波束中包含各種不同頻率分量
B.高頻分量分布在波束中心的附近
C.低頻分量分布在波束的邊緣
D.用儀器測量周期時間計算得到的直通波頻率,實際上是回波頻率而不是探頭發(fā)出的信號頻率
A.窄帶寬
B.中帶寬
C.寬帶寬
D.帶寬與粗晶材料檢測特性無關
A.提高帶寬有利于縱向分辨力的提高,但將使靈敏度損失
B.壓電復合材料不須采用背阻尼來提高帶寬
C.TOFD探頭的帶寬一般指-6dB帶寬
D.一般規(guī)定帶寬在76-110%范圍的探頭為寬帶探頭
A.可加工形狀復雜的探頭
B.聲速、聲阻抗等參數(shù)易于改變
C.在較大溫度范圍內(nèi)特性穩(wěn)定
D.價格低
最新試題
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
對軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準反射而進行靈敏度調(diào)整時,該軸鍛件的直徑至少應大于()
下列對耦合劑應該具有的特點的描述,不正確的一項是()
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關,觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
通常所謂20KV的X射線是指()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關系是()
影響較大的散射線通常來自()
射線照片上一個細節(jié)的影像是否能被眼睛識別出來,最主要的是決定于()
最容易發(fā)生光電效應的射線能量為()