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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述SEM的結(jié)構(gòu)和特點(diǎn)（與TEM對(duì)比）。
答案：
（1）由電子光學(xué)系統(tǒng)（鏡筒）、偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)（掃描系統(tǒng)）、信號(hào)探測(cè)放大系統(tǒng)、圖像顯示記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電源系統(tǒng)等。作用：使電...
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【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述SEM的基本原理。
答案：
SEM是利用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像，試樣為塊狀或粉末顆粒，成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子等，其中...
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述TEM的特點(diǎn)及主要用途。
答案：
（1）TEM是一種高分辨率、高放大倍數(shù)的顯微鏡，是觀察和分析形貌組織結(jié)構(gòu)的有效工具，利用附件也可以進(jìn)行微區(qū)成分分析。
