盛放被測(cè)試樣品的坩堝應(yīng)保證可以與樣品進(jìn)行反應(yīng)。

DMA測(cè)試常見的兩種掃描測(cè)試方式為（）。

衍射線在空間的分布（也就是晶面間距）主要反映（）。

質(zhì)厚襯度與散射物體不同部位的密度和厚度的差異無關(guān)。

透射式高能電子衍射只適用于對(duì)薄層樣品的分析的原因在于與X射線相比，電子穿透能力差。