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X射線熒光光譜分析中,適當選擇分析晶體是消除譜線重疊干擾方法之一。
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在X射線熒光光譜分析中,樣品中除分析元素以外的全部元素為基體,基體元素對分析元素的影響叫基體效應。
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X射線熒光分析標準添加法和稀釋法中,仍需要標準和校準曲線。
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