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X射線熒光分析標(biāo)準(zhǔn)添加法和稀釋法中,仍需要標(biāo)準(zhǔn)和校準(zhǔn)曲線。
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X射線熒光分析時基體效應(yīng)的基體與光電直讀光譜分析用的鐵基樣品、鎳基樣品、鉻基樣品的鐵基、鎳基、鉻基含意是一樣的。
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X射線熒光光譜內(nèi)標(biāo)法,即把一定量的內(nèi)標(biāo)元素加入到標(biāo)準(zhǔn)試料及分析試料中,以標(biāo)準(zhǔn)試料中分析元素與內(nèi)標(biāo)元素的X射線熒光強(qiáng)度比與分析元素含量繪制校準(zhǔn)曲線。測定分析試料的分析元素與內(nèi)標(biāo)元素的X射線熒光強(qiáng)度比,從校準(zhǔn)曲線求得分析元素含量。
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