A.操作簡(jiǎn)便,適用于局部或現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)
B.聲能損失較少,可以提供較大的穿透能力
C.相同條件下,可提供更高的檢測(cè)靈敏度
D.以上都是
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A.檢測(cè)大厚度零件,選擇較低的頻率是為了減少表面散射損耗
B.檢測(cè)小厚度零件,選擇較高的頻率是為了提高分辨力
C.檢測(cè)晶粒粗大零件,選擇較低的頻率是為了提高小缺陷檢測(cè)能力
D.以上都正確
A.受檢件的熱處理狀態(tài)、表面狀態(tài)、可能的加工余量;
B.受檢件的材料牌號(hào)、制造工藝、尺寸;
C.受檢件受力方向、影響使用性能的缺陷種類及形成原因;
D.受檢件材料及形狀、缺陷位置及取向、驗(yàn)收要求。
A.平底孔
B.V型槽
C.橫通孔
D.以上都可以
A.平底孔
B.V型槽
C.橫通孔
D.以上都可以
A.堿性類
B.甘油類
C.硅基類
D.以上都不適用
最新試題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。