單項(xiàng)選擇題關(guān)于相平面法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。

A.相平面法只適用于一階、二階系統(tǒng)
B.相平面法僅適用于二階系統(tǒng)
C.相平面法可以分析穩(wěn)定性
D.相平面法可以分析系統(tǒng)瞬態(tài)響應(yīng)


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1.單項(xiàng)選擇題順饋校正也稱()

A.串聯(lián)校正
B.并聯(lián)校正
C.前饋校正
D.有源校正

2.單項(xiàng)選擇題系統(tǒng)中常見(jiàn)的非線性特性,當(dāng)輸入為()時(shí),其輸出一般為同周期的()。

A.正弦函數(shù);余弦函數(shù)
B.正弦函數(shù);非正弦函數(shù)
C.余弦函數(shù);正弦函數(shù)
D.余弦函數(shù);非正弦函數(shù)

3.單項(xiàng)選擇題典型環(huán)節(jié)中,()的幅頻特性和相頻特性都是常量。

A.比例環(huán)節(jié)
B.微分環(huán)節(jié)
C.慣性環(huán)節(jié)
D.積分環(huán)節(jié)

4.單項(xiàng)選擇題信號(hào)流圖中不含有()

A.節(jié)點(diǎn)
B.方框
C.支路
D.增益

5.單項(xiàng)選擇題相平面圖的對(duì)稱性可以從()來(lái)判斷。

A.相軌跡
B.相軌跡的頻率
C.相軌跡的斜率
D.相軌跡的幅值

最新試題

二次振蕩環(huán)節(jié)中包含()個(gè)獨(dú)立儲(chǔ)能元件。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

關(guān)于環(huán)節(jié)以下說(shuō)法正確的是:()

題型:多項(xiàng)選擇題

超前校正適用于改善系統(tǒng)的(),而滯后校正常用于改善系統(tǒng)的()。如果系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)和穩(wěn)態(tài)特性均較差時(shí),通常需采用()。

題型:填空題

采用相位超前校正將使系統(tǒng)的增益剪切頻率()。(選填增大或減?。?/p>

題型:填空題

關(guān)于控制系統(tǒng)的數(shù)學(xué)模型,下列說(shuō)法錯(cuò)誤的是:()

題型:多項(xiàng)選擇題

滯后校正的轉(zhuǎn)折頻率選得距截止頻率越遠(yuǎn),滯后校正裝置本身在處造成的相角滯后就()。然而,距越遠(yuǎn),容易造成“()”現(xiàn)象。

題型:填空題

控制系統(tǒng)的頻域指標(biāo)包括()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間,對(duì)作用于系統(tǒng)的擾動(dòng)沒(méi)有補(bǔ)償作用。()

題型:判斷題

前饋校正一般不單獨(dú)使用,總是和其他校正方式結(jié)合起來(lái)構(gòu)成()控制系統(tǒng),以滿足某些性能要求較高的系統(tǒng)的需要。

題型:填空題

用根軌跡法進(jìn)行系統(tǒng)校正,是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計(jì),所以,在校正裝置設(shè)計(jì)之后,需要進(jìn)行(),看被忽略掉的系統(tǒng)極點(diǎn)對(duì)系統(tǒng)動(dòng)態(tài)性能的影響。正因?yàn)榻惦A處理的粗略性,設(shè)計(jì)初確定主導(dǎo)極點(diǎn)位置時(shí)需要留出()。

題型:填空題