問(wèn)答題相對(duì)光學(xué)顯微鏡,透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電鏡(SEM)各有哪些優(yōu)點(diǎn)?
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最新試題
在三個(gè)假設(shè)的前提下,運(yùn)動(dòng)學(xué)理論在處理衍射強(qiáng)度時(shí),采用了()兩個(gè)基本近似。
題型:多項(xiàng)選擇題
掃描電子顯微鏡隨放大倍數(shù)的增大,電子束直徑()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在物相定性分析時(shí),所使用的PDF卡片檢索手冊(cè),以d值數(shù)列為索引稱(chēng)為()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于完整晶體,當(dāng)偏離矢量恒定時(shí),厚度改變,會(huì)產(chǎn)生等厚條紋襯度。
題型:判斷題
質(zhì)厚襯度與散射物體不同部位的密度和厚度的差異無(wú)關(guān)。
題型:判斷題
對(duì)第二相的形狀、大小以及成分進(jìn)行分析的復(fù)型方法是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
與電子探針相比,離子探針的分析深度更深。
題型:判斷題
盛放被測(cè)試樣品的坩堝應(yīng)保證可以與樣品進(jìn)行反應(yīng)。
題型:判斷題
色譜-質(zhì)譜聯(lián)用技術(shù)既發(fā)揮了色譜法的分離能力,又發(fā)揮了質(zhì)譜法的高鑒別能力。
題型:判斷題
不存在位錯(cuò)、第二相粒子等缺陷的晶體,稱(chēng)為理想晶體或者是完整晶體。
題型:判斷題