問答題X射線衍射實(shí)驗(yàn)主要有哪些方法?它們各有哪些應(yīng)用?
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最新試題
支持膜或復(fù)型薄膜不應(yīng)該顯示出()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
色譜-質(zhì)譜聯(lián)用技術(shù)既發(fā)揮了色譜法的分離能力,又發(fā)揮了質(zhì)譜法的高鑒別能力。
題型:判斷題
電子探針做定量分析時(shí)一般不需要進(jìn)行修正。
題型:判斷題
透射式高能電子衍射只適用于對(duì)薄層樣品的分析的原因在于與X射線相比,電子穿透能力差。
題型:判斷題
在三個(gè)假設(shè)的前提下,運(yùn)動(dòng)學(xué)理論在處理衍射強(qiáng)度時(shí),采用了()兩個(gè)基本近似。
題型:多項(xiàng)選擇題
TMA測(cè)試材料的尺寸變化,因此只能利用它表征材料尺寸。
題型:判斷題
樣品質(zhì)量偏大可能會(huì)造成失重曲線向高溫方向偏移。
題型:判斷題
熱塑性聚合物的熔點(diǎn)在DSC曲線的()部位。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
衍射線在空間的分布(也就是晶面間距)主要反映()。
題型:多項(xiàng)選擇題
盛放被測(cè)試樣品的坩堝應(yīng)保證可以與樣品進(jìn)行反應(yīng)。
題型:判斷題