A.改變縱波入射角度以得到要求的橫波折射角度 B.通過(guò)電脈沖控制改變獨(dú)立晶片的角度 C.用計(jì)算機(jī)控制同步電路 D.改變發(fā)射和接收延時(shí)間隔調(diào)節(jié)角度
A.探頭壓電晶片是一個(gè)整體 B.通過(guò)改變延時(shí)間隔,可以改變聲束焦距長(zhǎng)度 C.不適用于復(fù)雜工件的檢測(cè) D.不能進(jìn)行扇形掃描
A.缺陷回波法、底波高度法和多次底波法 B.直射波法、斜射波法和衍射時(shí)差法 C.一次波法、一次反射法和板波法 D.以上都對(duì)