A.探頭壓電晶片是一個整體 B.通過改變延時間隔,可以改變聲束焦距長度 C.不適用于復(fù)雜工件的檢測 D.不能進行扇形掃描
A.缺陷回波法、底波高度法和多次底波法 B.直射波法、斜射波法和衍射時差法 C.一次波法、一次反射法和板波法 D.以上都對
A.與波速無關(guān) B.與工件厚度有關(guān) C.與探頭中心間距有關(guān) D.與檢測聲波頻率有關(guān)