標準試塊的材質(zhì)應盡可能與被檢工件相同或相近。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應將探傷靈敏度適當降低。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

穿透法的最大優(yōu)點是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。

液浸法的優(yōu)點之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結(jié)果重復性好。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。