與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進行橫波探傷。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。

脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕置于關(guān)的位置。

標準試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。