工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。

檢測面準備的目的是為了保證良好的聲耦合。

標準試塊的材質(zhì)應盡可能與被檢工件相同或相近。

脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

測定組合靈敏度時，應先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進行測試。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。