工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

當量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。

液浸法的優(yōu)點之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結(jié)果重復性好。

測定“始脈沖寬度”時，應將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應將探傷靈敏度適當降低。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。