判斷題同類(lèi)型探頭,面積相同,頻率相同的圓晶片和方晶片的近場(chǎng)長(zhǎng)度相同。
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最新試題
穿透法靈敏度高于脈沖反射法。
題型:判斷題
與IIW試塊相比,CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。
題型:判斷題
檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。
題型:判斷題
串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。
題型:判斷題
橫波法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面成一定傾角的缺陷。
題型:判斷題
測(cè)定“始脈沖寬度”時(shí),應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。
題型:判斷題
測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí),應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。
題型:判斷題
縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波,又有橫波,因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
題型:判斷題
多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。
題型:判斷題
脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān),對(duì)厚度大的工件,應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。
題型:判斷題