橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。

穿透法的最大優(yōu)點是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

標準試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。

檢測面準備的目的是為了保證良好的聲耦合。