A.當(dāng)CHART含蓋混合的工藝設(shè)備輸出,則計(jì)算控制線的數(shù)據(jù)包含所有的設(shè)備輸出
B.當(dāng)過程變差變大時(shí)即可重新計(jì)算控制線
C.計(jì)算控制線時(shí)明顯的異常點(diǎn)(如:數(shù)據(jù)輸錯(cuò),誤操作等)應(yīng)該去除后再算,以免放寬控制線
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A.新設(shè)備加入或設(shè)備移出
B.過程波動(dòng)變大
C.規(guī)范更改
A.1點(diǎn)超3sigma和連續(xù)7點(diǎn)在中心值一側(cè)
B.1點(diǎn)超3sigma和3點(diǎn)中有2點(diǎn)在A區(qū)或A區(qū)以外
C.1點(diǎn)超3sigma和連續(xù)7點(diǎn)上升或下降
A.12
B.24
C.48
A.25
B.20
C.30
A.Cpl
B.Cpu
C.Cpk
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最新試題
在繪制控制圖時(shí),不管采取何種方法,均應(yīng)注意控制圖應(yīng)能顯示過程受控,否則不能計(jì)算過程能力。
R
第Ⅰ類錯(cuò)誤
控制限
特殊原因都是惡性的,都應(yīng)該進(jìn)行剔除。
Cpk(穩(wěn)定過程的能力指數(shù))
1924年,美國的品管大師休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中,并發(fā)表了著名的“控制圖法”(亦稱為:Shewhart控制圖或3σ控制圖。即:一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所分析的過程能力的控制界限比較,而以時(shí)間順序表示出來的圖形)。通過對(duì)過程變差進(jìn)行控制,為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
P圖控制法適用于對(duì)所有的計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)做統(tǒng)計(jì)過程控制。
Ppk(性能指數(shù),即初期過程的性能指數(shù))
PPM(質(zhì)量水準(zhǔn),即每百萬零件不合格數(shù))