單項(xiàng)選擇題

應(yīng)用特高頻局部放電對(duì)GIS進(jìn)行檢測(cè)，放電信號(hào)在工頻相位的正、負(fù)半周均會(huì)出現(xiàn)，且具有一定對(duì)稱性，放電信號(hào)幅值很大，放電次數(shù)少，則最可能的缺陷是（）。

A.尖端放電；
B.絕緣內(nèi)部氣隙放電；
C.內(nèi)部懸浮放電；
D.自由顆粒放電。

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