單項(xiàng)選擇題

應(yīng)用特高頻局部放電對(duì)GIS進(jìn)行檢測(cè)，放電的極性效應(yīng)非常明顯，在工頻相位的負(fù)半周出現(xiàn)，放電信號(hào)強(qiáng)度較弱且相位分布較寬，放電次數(shù)較多，則最可能的缺陷是（）。

A.絕緣內(nèi)部氣隙放電；
B.尖端放電；
C.內(nèi)部懸浮放電；
D.自由顆粒放電。

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