單項(xiàng)選擇題為減少超聲波通過介質(zhì)時的衰減和避免林狀回波，宜采用（）進(jìn)行探傷。
A.高頻率、橫波
B.較低頻率、橫波
C.高頻率、縱波
D.較低頻率、縱波
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1.單項(xiàng)選擇題超聲波檢測中主要考慮的工藝因素是（）
A.工作頻率
B.探頭和儀器參數(shù)
C.耦合條件與狀態(tài)
D.探測面
E.以上都是
2.單項(xiàng)選擇題由一個探頭發(fā)射超聲波，通過試件后再由另一個探頭接收，這里檢驗(yàn)?zāi)Ｊ椒Q為（）
A.瑞利波法
B.斜射法
C.雙探頭法
D.垂直法
3.單項(xiàng)選擇題由一個探頭發(fā)射超聲波，通過試件后再由另一個探頭接收，這種檢驗(yàn)方法稱為（）
A.表面波法
B.斜射法
C.穿透法
D.垂直法
4.單項(xiàng)選擇題用一臺時基線已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探測圓心無切的半圓試塊，第一次回波位于滿刻度為10的水平刻度3處，則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的（）處。
A.5
B.7.5
C.8
D.9
5.單項(xiàng)選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的φ50孔改為φ40、φ44、φ50臺階孔，其目的是方便用于（）
A.測定斜探頭折射角的正切（K值）
B.測定直探頭盲區(qū)范圍
C.測定橫波斜探頭的分辨力
D.以上全是
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在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項(xiàng)選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
題型：單項(xiàng)選擇題