單項(xiàng)選擇題超聲波檢測(cè)中主要考慮的工藝因素是（）
A.工作頻率
B.探頭和儀器參數(shù)
C.耦合條件與狀態(tài)
D.探測(cè)面
E.以上都是
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1.單項(xiàng)選擇題由一個(gè)探頭發(fā)射超聲波，通過(guò)試件后再由另一個(gè)探頭接收，這里檢驗(yàn)?zāi)Ｊ椒Q(chēng)為（）
A.瑞利波法
B.斜射法
C.雙探頭法
D.垂直法
2.單項(xiàng)選擇題由一個(gè)探頭發(fā)射超聲波，通過(guò)試件后再由另一個(gè)探頭接收，這種檢驗(yàn)方法稱(chēng)為（）
A.表面波法
B.斜射法
C.穿透法
D.垂直法
3.單項(xiàng)選擇題用一臺(tái)時(shí)基線(xiàn)已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探測(cè)圓心無(wú)切的半圓試塊，第一次回波位于滿(mǎn)刻度為10的水平刻度3處，則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的（）處。
A.5
B.7.5
C.8
D.9
4.單項(xiàng)選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的φ50孔改為φ40、φ44、φ50臺(tái)階孔，其目的是方便用于（）
A.測(cè)定斜探頭折射角的正切（K值）
B.測(cè)定直探頭盲區(qū)范圍
C.測(cè)定橫波斜探頭的分辨力
D.以上全是
5.單項(xiàng)選擇題用一臺(tái)時(shí)基線(xiàn)已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探測(cè)無(wú)切槽的IIW2試塊，斜探頭聲束朝向R25方向，若令第一次回波位于滿(mǎn)刻度為100的水平刻度25處，則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的（）
A.50
B.75
C.100
D.以上都不對(duì)
最新試題
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題