A.靈敏度等級(jí)分類 B.質(zhì)量控制內(nèi)容 C.資料性引用文件 D.滲透基本程序
A.便于觀察缺陷顯示 B.提高觀察時(shí)的背景可見光照度 C.便于觀察顯示形成過程 D.防止過度去除,同時(shí)防止去除不足
A.工件被檢面處的觀察部位 B.容器內(nèi)腔空間處 C.被檢測(cè)工件所處的環(huán)境 D.整個(gè)被檢工件表面