底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

當(dāng)超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。

單探頭法容易檢出（）。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。