單項(xiàng)選擇題

爬波檢測(cè)時(shí),工件中第一波瓣幅度最大值所對(duì)應(yīng)的折射角θ與入射角α、頻率f和晶片直徑D有關(guān),為探測(cè)不同深度中缺陷一般用下列哪項(xiàng)方式確定θ:()。

A.改變?chǔ)莲@得不同值的θ
B.固定α和f,改變晶片直徑D
C.固定α和D,改變頻率f
D.固定D,改變f·α值

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