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筆記本內(nèi)存條的故障一般出現(xiàn)在()上。
A、內(nèi)存顆粒
B、金手指
C、電阻
D、電容
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單項選擇題
()程序只是重新改寫了硬盤的主引導(dǎo)扇區(qū)(0面0道1扇區(qū))中的內(nèi)容,即硬盤分區(qū)表中的信息,而原來的數(shù)據(jù)均沒有改變。
A、EasyRecovery
B、Fdisk
C、Scandisk
D、Chkdsk
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單項選擇題
SMT回流焊接溫度曲線儀通過()端口與PC微機(jī)進(jìn)行連接。
A、并口
B、RS-232
C、USB
D、RJ45
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