圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線,探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點(diǎn)對(duì)‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50
B.50、100
C.50、75、100
D.以上都可能
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線,探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)的示意圖。此時(shí),各反射波之間的間距應(yīng)是多少()
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線,探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R25圓弧面時(shí)的示意圖。此時(shí),各反射波之間的間距應(yīng)是多少()
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線,探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R25圓弧面時(shí)的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點(diǎn)對(duì)‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況?()
A.25、100
B.25、50、100
C.25、50、75、100
D.以上都可能
圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷C探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷B探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
![](https://static.ppkao.com/ppmg/img/appqrcode.png)
最新試題
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。