圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)的示意圖。此時(shí)，各反射波之間的間距應(yīng)是多少（）
A.25
B.50
C.75
D.100
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圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R25圓弧面時(shí)的示意圖。此時(shí)，各反射波之間的間距應(yīng)是多少（）
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R25圓弧面時(shí)的示意圖。如果按1：1聲程調(diào)整的話（入射點(diǎn)對(duì)‘0’，滿刻度100），熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況？（）
A.25、100
B.25、50、100
C.25、50、75、100
D.以上都可能
圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖，根據(jù)圖示判斷C探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波（）
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖，根據(jù)圖示判斷B探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波（）
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
圖是測(cè)試橫波探頭不同折射角對(duì)應(yīng)探頭位置的示意圖，根據(jù)圖示判斷A探頭位置測(cè)試的折射角是利用以下哪個(gè)面的回波（）
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
儀器水平線性影響（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
單探頭法容易檢出（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。