A、外界條件 B、儀器條件 C、觀測(cè)者的自身?xiàng)l件 D、地質(zhì)條件
A、測(cè)定 B、測(cè)設(shè) C、抄平 D、放線
A.細(xì)部放樣精度與整體放樣精度相同 B.細(xì)部放樣精度小于整體放樣精度 C.細(xì)部放樣精度大于整體放樣精度 D.整體放樣精度包含細(xì)部放樣精度