A、測(cè)定 B、測(cè)設(shè) C、抄平 D、放線
A.細(xì)部放樣精度與整體放樣精度相同 B.細(xì)部放樣精度小于整體放樣精度 C.細(xì)部放樣精度大于整體放樣精度 D.整體放樣精度包含細(xì)部放樣精度
A、兩點(diǎn)直線形 B、三點(diǎn)直線形 C、三點(diǎn)直角形 D、四點(diǎn)丁字形