選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時(shí)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以不進(jìn)行背景校正。

原子熒光中屏蔽氣的作用是阻止因外圍空氣進(jìn)入管中心而造成的熒光猝滅效應(yīng)。

直讀光譜分析中，電極與試樣的距離對(duì)分析結(jié)果有影響。

從ICP-AES干擾原理出發(fā)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以有效地消除光譜干擾。

X射線熒光光譜玻璃熔片法中采用硝酸銨作為氧化劑，氧化劑只能以固體形式加入。

X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果，導(dǎo)致分析延時(shí)。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。

直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。

原子吸收光譜法的標(biāo)準(zhǔn)曲線的濃度范圍應(yīng)包括被測(cè)元素的含量范圍。

碳硫分析儀器短期或長期不使用時(shí)，應(yīng)間隔一段時(shí)間，開一次機(jī)。