X射線熒光光譜法玻璃熔片法測量爐渣時，可以使用純氧化物配比建立工作曲線。

選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時，使用標準加入法可以不進行背景校正。

金屬的直讀光譜分析使用的內(nèi)標元素，通常為基體元素。

X射線熒光光譜儀長時間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。

紅外碳硫儀中的紅外檢測池具有單一性，各紅外池間不可互相代用。

高頻感應(yīng)紅外線吸收法測定鐵合金中碳硫含量，批量分析時應(yīng)每測定一定數(shù)量樣品，插做一個標準樣品，檢查儀器的線性是否漂移。

直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點，凝聚放電是好的，擴散放電是不好的。

直讀光譜儀使用一段時間后需要清理廢氣過濾器，廢氣過濾器需放置一段時間后才能打開，以防自燃。

ICP-AES分析中的化學(xué)干擾，比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多，因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計。

X射線熒光光譜玻璃熔片法中采用硝酸銨作為氧化劑，氧化劑只能以固體形式加入。