A.一般采用液浸法耦合 B.可以在監(jiān)視器上進行A、B、C型顯示 C.缺陷利用網(wǎng)絡(luò)標記顯示二值化圖像 D.缺陷評定目前不能執(zhí)行JB/T4730.3—2005標準
A.兩介質(zhì)聲特性阻抗接近,界面回波小,容易檢出 B.兩介質(zhì)聲特性阻抗接近,界面回波大,不易檢出 C.兩介質(zhì)聲特性阻抗差別大,界面回波大,不易檢出查 D.兩介質(zhì)聲特性阻抗差別大,界面回波小,容易檢查
A.采用與被檢工件材質(zhì)相同的ϕ5mm平底孔試塊調(diào)節(jié)靈敏度 B.當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳úǜ叩陀陲@示屏滿刻度的5%時即作為缺陷處理 C.缺陷第一次反射波波高大于或等于顯示屏滿刻度的50%時即作為缺陷處理 D.缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比大于或等于100%時即作為缺陷處理