A.采用與被檢工件材質(zhì)相同的ϕ5mm平底孔試塊調(diào)節(jié)靈敏度 B.當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳úǜ叩陀陲@示屏滿刻度的5%時即作為缺陷處理 C.缺陷第一次反射波波高大于或等于顯示屏滿刻度的50%時即作為缺陷處理 D.缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比大于或等于100%時即作為缺陷處理
A.縱波斜探頭 B.橫波斜探頭 C.表面波探頭 D.縱波直探頭
A.平面性缺陷波高與缺陷面積成正比 B.球形缺陷反射波高與缺陷直徑成正比 C.缺陷傾斜度變小,缺陷檢出率提高 D.夾雜類缺陷可能會因產(chǎn)生透射聲波而無法檢測到