是橫波雙探頭檢測(cè)技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷哪種排列方式適宜檢測(cè)平行于聲入射面的內(nèi)部缺陷 ()
A.方式1 B.方式2 C.方式3 D.以上方式都可以
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線,探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)的示意圖。如果按1:2聲程調(diào)整的話(入射點(diǎn)對(duì)‘0’,滿刻度200),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50、100、200 B.50、125、200 C.50、75、200 D.50、100、150、200
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線,探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點(diǎn)對(duì)‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50 B.50、100 C.50、75、100 D.以上都可能