是橫波雙探頭檢測(cè)技術(shù)的典型排列方式，試從圖中判斷哪種排列方式適宜檢測(cè)平行于聲入射面的內(nèi)部缺陷
（）
A.方式1
B.方式2
C.方式3
D.以上方式都可以
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圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)的示意圖。如果按1：2聲程調(diào)整的話（入射點(diǎn)對(duì)‘0’，滿刻度200），熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況（）
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)的示意圖。如果按1：1聲程調(diào)整的話（入射點(diǎn)對(duì)‘0’，滿刻度100），熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況（）
A.50
B.50、100
C.50、75、100
D.以上都可能
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)的示意圖。此時(shí)，各反射波之間的間距應(yīng)是多少（）
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R25圓弧面時(shí)的示意圖。此時(shí)，各反射波之間的間距應(yīng)是多少（）
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對(duì)準(zhǔn)R25圓弧面時(shí)的示意圖。如果按1：1聲程調(diào)整的話（入射點(diǎn)對(duì)‘0’，滿刻度100），熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況？（）
A.25、100
B.25、50、100
C.25、50、75、100
D.以上都可能
最新試題
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
單探頭法容易檢出（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。