直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。

X射線熒光光譜法玻璃熔片法測(cè)量爐渣時(shí)，可以使用純氧化物配比建立工作曲線。

原子熒光法做檢出限測(cè)試時(shí)應(yīng)對(duì)空白樣品連續(xù)測(cè)定7次。

X射線熒光光譜儀長(zhǎng)時(shí)間停用后，可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。

原子熒光儀更換空心陰極燈時(shí)應(yīng)先將主、輔電流調(diào)到零處，然后關(guān)閉主機(jī)電源才能換燈。

ICPMS微波消解溶樣時(shí)開(kāi)啟微波消解罐時(shí)應(yīng)戴好手套和防護(hù)眼鏡。

選用ICP-AES分析鎳鐵中砷時(shí)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以不進(jìn)行背景校正。

從ICP-AES干擾原理出發(fā)，使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以有效地消除光譜干擾。

X射線熒光光譜分析中，含吸附水的樣品會(huì)影響抽真空的效果，導(dǎo)致分析延時(shí)。

高頻感應(yīng)紅外線吸收法測(cè)定鎢鐵中碳硫含量，氧氣源發(fā)生改變時(shí)，應(yīng)重新對(duì)工作曲線進(jìn)行校正。