A.好的 B.較好的 C.較差的 D.差的
A.Ⅰ級 B.Ⅱ級 C.Ⅲ級 D.Ⅳ級
A.山區(qū)勘探點(diǎn)間距不應(yīng)大于50m B.勘探點(diǎn)宜在洞室中線外側(cè)6~8m交叉布置 C.第四系中的一般性勘探孔可鉆至基底設(shè)計(jì)標(biāo)高下6~10m D.采集試樣及原位測試勘探孔數(shù)量不應(yīng)少于勘探孔總數(shù)的2/3