A.Ⅰ級(jí) B.Ⅱ級(jí) C.Ⅲ級(jí) D.Ⅳ級(jí)
A.山區(qū)勘探點(diǎn)間距不應(yīng)大于50m B.勘探點(diǎn)宜在洞室中線外側(cè)6~8m交叉布置 C.第四系中的一般性勘探孔可鉆至基底設(shè)計(jì)標(biāo)高下6~10m D.采集試樣及原位測(cè)試勘探孔數(shù)量不應(yīng)少于勘探孔總數(shù)的2/3
A.多次剪 B.快剪 C.慢剪