問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述散點(diǎn)圖適用的數(shù)據(jù)類(lèi)型。

答案: 散點(diǎn)圖常用來(lái)描述二元變量的觀測(cè)數(shù)據(jù),重點(diǎn)并不在單個(gè)的點(diǎn)上,而是意圖通過(guò)坐標(biāo)系中點(diǎn)的散布所構(gòu)成的整體來(lái)表示因變量與自變量之...
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問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述教育測(cè)量的主要誤差來(lái)源。

答案:

教育測(cè)量的主要誤差來(lái)源有:
(1)測(cè)量工具;
(2)被試;
(3)施測(cè)過(guò)程。

問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述常用的控制假設(shè)檢驗(yàn)兩類(lèi)錯(cuò)誤的方法。

答案:

(1)選擇適當(dāng)?shù)腶 水平;
(2)合理使用單側(cè)檢驗(yàn)和雙側(cè)檢驗(yàn);
(3)適當(dāng)增加樣本容量。

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