X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為（）。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測試結(jié)果。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

在紅外光譜分析中，基本振動區(qū)是指（）。

利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。