關于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。

與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。

利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數范圍的元素。

在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

簡單立方結構材料發(fā)生衍射時，可以產生衍射的晶面為（）。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

電子束與固體樣品作用時，會產生背散射電子。背反射電子的產額隨樣品（）的增加而增多。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為（）。